信頼性データ解析の基礎からわかりやすく丁寧に

電子部品の信頼性試験を行った後、信頼性データ解析を行う必要があります。
データ解析を行うことで、実際に使われる年数以上製品が故障しないことを保証できます。
信頼性試験によって物が破壊された場合の解析は容易な方ですが、非破壊の場合は工夫が要ります。
また、信頼性試験自体、時間を要する試験ではありますが、これも工夫次第で時短や試験数の大幅削減が出来ます。
本書では、破壊・非破壊時の解析、時短方法について述べていきます。

読者の対象は以下の方です。
・信頼性試験技術を仕事で使い始めた人
・製品設計や品質保証に従事する人

分かりやすい説明を心掛けました。
色々な専門書に手を出す前にまず、本書を読んでいただきたいです。

本書を読めば、以下の疑問に答えられる内容となっております。
破壊時の信頼性試験データ解析方法は？
MTTFとは？
B10とは？
ワイブル分布とは？
形状パラメーター、尺度パラメーター、位置パラメーターの意味は何？
不信頼度とは？
故障密度関数とは？
故障率関数とは？
不信頼度、故障密度関数、故障率関数の関係は？
ワイブル解析方法はどのように行う？
平均ランク法・メディアンランク法とは？
信頼性余裕度とは？
非破壊時の信頼性データ解析方法は？
SSモデルとは？
SSモデルでの非破壊の取り扱いの利点は？
SSモデルで余裕度を見積もることのメリットは？
信頼性試験時間を短く済ませる方法は？
信頼性試験の評価サンプル種類（数）を減らす方法は？
サンプルを比較する時の観点は？

以上の事柄を分かりやすく書きました。
記載した疑問点に関して、複数わからない箇所があれば
是非、本書を手に取ってみてください。

• EMCの基礎からわかりやすく丁寧に
• 電子回路の基礎からわかりやすく丁寧に